图表内容
池涉及ALD技术的制备环节
制备导电金属薄膜
硅片两侧生成氧化硅层
双面制备本征非品硅层
制备T0非金属导电层
制备掺杂多品硅层
下表面沉积心型非品硅层
制备空穴传输层
后去除
LPCVD沉积氨化硅层
上表面沉积n型非品硅层
沉积窄带隙钙钛矿
下表面制备透明导电层
制备电子传输层
电薄膜
磁控溅射NO形成隧穿结
上表面形成TO隧穿复合层
制备氧化锡致密层
钙钛矿/TOPCon
制备空穴传输层
钙钛矿/HUT
制备钙钛矿层
制备钙钛矿园
制备空穴传输层
制备电子传输层
制备电子传输层
沉积宽带隙钙钛矿
沉积缓冲层(氧化锡)
制甾电子传输层
开槽
制备氧化揭短冲层
制备透明导电层
制备透明导电层
制备透明导电层
制备双面金属电极
制备双面金属电极
制备项部金属电极