图表内容
图表31TOPC0n背面膜其他制备方法存在的问题
制备方法
工艺流程
存在问题
LPCVD
隧穿层和多晶硅层
绕镀严重、成膜速率低、需二次掺杂过程繁琐、后期运营成本高
能获得高质量的氧化硅层、较低的界面缺陷态密度,但存在大尺寸硅片
高温热氧化法
氧化硅隧穿层
下容易受热不均匀、成膜反应速度慢等问题
采用等离子体轰击NO使其解离产生游离O从而氧化硅片表面,该方法
等离子体氧化法
氧化硅隧穿层
生长的氧化硅厚度较厚,对于1-3m的厚度,该方法难以控制厚度
资料来源:招股说明书,华安证券研究所